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产品优势
缺陷图例
晶硅电池隐裂检测
主要用于硅片来料隐性裂纹等缺陷的检测
产品型号:LP
solar
-SC100
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验证
技术参数
产能
≥3600片/小时
最高检测精度
150μm
设备有效时间
99%
破片率
<0.05%(传输剔除)
重复性
99.85%
电压
220V AV
功率
≤1000W
产品优势
一体化
隐裂碎片检测模块
全定制光学系统(售价更低,性能更好)
高效AI算法(算法时间100ms以内)
缺陷图例
隐裂缺陷-1
隐裂缺陷-2
隐裂缺陷-3
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隐裂缺陷-5
隐裂缺陷-6
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